XRF膜厚測定器Pシリーズ

PD-00002578

XRF膜厚測定器Pシリーズ

製品型番 P Series

製造事業者 株式会社ニレコ

製品カテゴリ 蛍光X線膜厚測定器

業種 製造業

用途 検査

置き換えが可能となる機能・性能

<置き換えが可能となる機能・性能とは>

当該機能・性能を有している製品は、置き換えの対象製品となります。

※交付申請の際には上記の機能・性能のうち1点以上を新規に有する製品への置き換えのみが対象となります。

製品概要

Pシリーズは、様々なサイズ、形状のサンプルを測定可能な蛍光X線膜厚計です。高精度でプログラムが可能なX-Yステージが標準装備されており、測定位置の制御を簡便にします。マルチポイントプログラム機能により、指定した複数の測定位置を自動で測定することが可能であり、同じパターンのサンプルであれば、プログラムを変更することなく測定できるため、大量のサンプル測定に必要な工数を削減できます。シリコンドリフト検出器(SDD)を標準搭載しており、比例計数管モデルに比べて高速な測定が可能です。サポート対応地域:全国

登録日